JEOL JSM 7001F
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)
Çalışma aralığı : 1 - 30 kV
Büyütme oranı : 10X-1000000X
Görüntüleme yöntemleri: SEI ve BEI (TOPO ve COMPO)
Çözünürlük : 1,2 nm (30 kV 'ta)
3 nm (30 kV, SEI)
